RapidIO背板信號(hào)完整性測(cè)試方法
2011/7/23 14:50:00
RapidIO背板的信號(hào)完整性優(yōu)劣直接影響了RapidIO總線性能。結(jié)合行業(yè)規(guī)范,分解出Ra-pidIO背板信號(hào)完整性的相關(guān)指標(biāo)要求,并推導(dǎo)出一套完整的背板測(cè)試方法,結(jié)合一個(gè)典型的背板系統(tǒng),對(duì)測(cè)試方法進(jìn)行了詳細(xì)的分析說明。該套測(cè)試方法切實(shí)可行,可直接應(yīng)用于類似的RapidIO背板測(cè)試。
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